微波反射光电导衰退法少子寿命分析仪

●测试原理采用国际公认的微波反射光电导衰退法

●选用脉冲能量充足、波长适合的专业激光器为激发源，性能可靠稳定

●方便直观的操作过程，步骤简单

主要参数

测试范围和精度

可测试材料

硅片或块状硅材料

扩散形成P-N后的太阳电池(无金属电极)

少子寿命测试范围

(1~1000)μs

电阻率测试范围

≥0.1Ω·cm

测试不重复度

≤5%(测试条件不变时)

测试速度

2秒/点

机械参数

微波源

10Kg; 465mm(长)*230mm(宽)*470mm(高)

工控机

20Kg; 500mm(长)*400mm(宽)*170mm(高)

脉冲激光源

10Kg; 350mm(长)*130mm(宽)*450mm(高)

使用要求

供电

220VAC±10%, 20A, 50/60Hz，单相电