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 | ResMap 463-OCResMap 463-OC463-OC•300mm wafer auto load ◦200mm, 150mm options◦Manual load any size•Dual or quad probe changer•Stand-alone system•Wide variety of mapping patterns | |
 | ResMap 463-FOUPResMap 463-FOUP463FOUP 300mm wafer FOUPDual or quad probe changerAdaptor for 300mm & 200mm cassetteStand-alone systemMini-environment | |
 | ResMap 168ResMap 168168•Auto- loading cassette ◦4" - 8" wafer auto load◦2" - 8" wafer manual load•Table top model•Fast measurement time•Wide variety of mapping patterns | |
 | CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统（电阻率，面电阻）CDE ResMap–CDE CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的 | |
 | CDE ResMap Model 468CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的 | |
 | CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OCCDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的 | |
 | ResMap 273CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的 | |
 | 半导体行业专用CDE ResMap 四点探针CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的 | |
 | 光伏测试专用美国ResMap四点探针光伏测试专用美国ResMap四点探针针：CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现 性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可 | |
 | Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统（4 point probe measurement system)Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统（4 point probe measurement system) | |
 | Four-point-probe mapping with handling systemFour-point-probe mapping with handling system | |
 | Four-point-probe mapping with handling systemFour-point-probe mapping with handling system This off-line instrument is a sheet resistance mapper for the automatic measurement of a stack of more than 100 wafers. The handling time is around 10 seconds, the supported wafer size is between 70 x 70 mm a | |
 | 四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪这款紧凑型仪器在所有轴上均可自动化，可在不到4分钟内创建100点的薄层电阻和晶圆电阻率映射。 在点击地图后将探头导航到所需位置后，可以重新测量单点。 | |
 | CDE四探针资料大全链接CDE四探针资料大全可下载,下载链接 | |
 | ResMap 468-SMIFResMap 468-SMIF 468SMIF •200mm wafer SMIF •Dual or quad probe changer •Mini-environment •Stand-alone system •Wide variety of mapping patterns | |